1. Electromigration modeling at circuit layout level
پدیدآورنده : Cher Ming Tan, Feifei He
کتابخانه: مرکز و کتابخانه مطالعات اسلامی به زبانهای اروپایی (قم)
موضوع : Electrodiffusion-- Simulation methods,Integrated circuits-- Reliability
رده :
TK7874
.
T36
2013